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https://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3113
Registro completo de metadados
Campo DC | Valor | Idioma |
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dc.creator | Souza, Daniel Silva de | - |
dc.creator.Lattes | http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4121031Y6 | por |
dc.contributor.advisor1 | Papaléo, Ricardo Meurer | - |
dc.contributor.advisor1Lattes | http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782198E6 | por |
dc.date.accessioned | 2015-04-14T13:58:26Z | - |
dc.date.available | 2008-05-28 | - |
dc.date.issued | 2008-03-28 | - |
dc.identifier.citation | SOUZA, Daniel Silva de. Efeito de taxa de dose na modificação de fluoreto de lítio por irradiação com íons pesados. 2008. 93 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia e Tecnologia de Materiais) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2008. | por |
dc.identifier.uri | http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3113 | - |
dc.description.resumo | No presente trabalho, estudou-se a criação de defeitos em cristais iônicos de fluoreto de lítio (LiF) irradiados com íons de ouro (Au) com energias da ordem de 3 a 15 MeV. O objetivo principal foi avaliar a efeito da taxa de dose (ou corrente iônica) na produção de centros de cores nas amostras irradiadas. Amostras de LiF monocristalino clivado no plano [100] foram irradiadas com fluências entre 5x10¹¹ a 2x10 [na décima quarta potência] íons/cm² e correntes entre 1 e 210 nA/cm². Algumas amostras foram expostas a diferentes temperaturas, observando sua influência na geração de defeitos. A partir da criação de vacâncias ou deslocamentos de íons da rede para o interstício, centros de cores são gerados, produzindo mudanças nas características ópticas e elétricas do cristal. Os centros de cores gerados nos cristais de LiF foram analisados através de espectroscopia óptica na faixa entre 190 a 1200 nm (UV IR-VIS). Para baixas fluências, ocorre a predominância do centro - F nos espectros medidos. Com o aumento da fluência foi observado que, centros - Fn e agregados dominam a espectro de absorbâncias. Para íons de 10 MeV, o raio efetivo de formação dos centros - F em torno da trilha do íon foi estimado em torno de 2,2 nm para o centro F. Para o centros F2 e F3 o raio efetivo ficou em torno de 1,2 nm e 0,2 nm respectivamente. Para uma fluência e corrente fixa, canstata-se que numero de defeitos gerados aumenta proporcionalmente com a energia dos íons incidentes devido ao aumento do dE/dx médio e da energia média dos elétrons secundários gerados. Por fim, foi observado para baixas fluências que os danos gerados são praticamente independentes do valor da taxa de dose. Contudo, a taxa de dose é significativa quando a fluência aplicada no material for alta, da ordem de 5x10¹³ íons/cm² ou maior. Observou-se que a concentração dos centros de cores é proporcional a (i) [1/3 na potência]. O efeito da taxa de dose esta relacionado à alteração da dinâmica da formação dos defeitos, quando dois ou mais impactos iônicos se sobrepõem espacialmente e temporalmente. 0 aquecimento transiente da amostra, devido às altas correntes, também influencia na maior eficiência na produção dos centros de cores, mas não da conta completa do efeito da corrente que é observado mesmo as amostras são resfriadas durante a irradiaçao. | por |
dc.description.provenance | Made available in DSpace on 2015-04-14T13:58:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1 401355.pdf: 1369287 bytes, checksum: 2023585a5f248c0e60eaa5836d62deb3 (MD5) Previous issue date: 2008-03-28 | eng |
dc.format | application/pdf | por |
dc.thumbnail.url | http://tede2.pucrs.br:80/tede2/retrieve/11494/401355.pdf.jpg | * |
dc.language | por | por |
dc.publisher | Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul | por |
dc.publisher.department | Faculdade de Engenharia | por |
dc.publisher.country | BR | por |
dc.publisher.initials | PUCRS | por |
dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação em Engenharia e Tecnologia de Materiais | por |
dc.rights | Acesso Aberto | por |
dc.subject | ENGENHARIA DE MATERIAIS | por |
dc.subject | RADIAÇÃO | por |
dc.subject | IONIZAÇÃO | por |
dc.subject | ÍONS | por |
dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS | por |
dc.title | Efeito de taxa de dose na modificação de fluoreto de lítio por irradiação com íons pesados | por |
dc.type | Dissertação | por |
Aparece nas coleções: | Programa de Pós-Graduação em Engenharia e Tecnologia de Materiais |
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Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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401355.pdf | Texto Completo | 1,34 MB | Adobe PDF | Baixar/Abrir Pré-Visualizar |
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