1. TEDE PUCRS
  2. Teses e Dissertações dos Programas de Pós-Graduação da PUCRS
  3. Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
Exportar este item: EndNote BibTex

Use este identificador para citar ou linkar para este item: https://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985
Registro completo de metadados
Campo DCValorIdioma
dc.creatorMoraes, Marlon Leandro-
dc.creator.Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4227813U3por
dc.contributor.advisor1Vargas, Fabian Luis-
dc.contributor.advisor1Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8por
dc.date.accessioned2015-04-14T13:56:09Z-
dc.date.available2008-05-16-
dc.date.issued2008-03-10-
dc.identifier.citationMORAES, Marlon Leandro. Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentação. 2008. 177 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2008.por
dc.identifier.urihttp://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/2985-
dc.description.resumoTendo em vista que o barramento de alimentação (VCC e Gnd) afeta diretamente a integridade de sinal de sistemas em chip (Systems-on-Chip, SoC) através de oscilações de tensão que podem induzir a erros funcionais, este trabalho tem por objetivo validar uma técnica inovadora, denominada CDCDC (Clock Duty Cycle Dynamic Control). Esta técnica visa aumentar a robustez de circuitos integrados (CI) digitais síncronos a tais oscilações de tensão. A técnica em questão realiza o controle dinâmico do ciclo de trabalho (duty-cycle) do sinal de relógio (clock) de acordo com a presença de perturbações (ruídos) nas linhas de alimentação. Este controle dinâmico do sinal de relógio realiza o prolongamento ou a redução do ciclo de trabalho, permitindo assim que o circuito síncrono apresente uma maior robustez às flutuações dos níveis de tensão nas linhas de alimentação, sem que haja redução da freqüência do sinal de relógio. Garante-se desta forma, a manutenção do desempenho do sistema mesmo quando este estiver operando em ambientes expostos ao ruído. Considerando que a interferência eletromagnética (EMI) é uma das principais causas de oscilações no barramento de alimentação de circuitos integrados (CI s), o que por sua vez compromete drasticamente a confiabilidade dos sistemas através da redução da margem de sinal/ruído, este trabalho tem por objetivo validar a utilização da técnica CDCDC para o aumento da robustez de CI s operando expostos à EMIpor
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2015-04-14T13:56:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 401158.pdf: 9853099 bytes, checksum: 1e66fe399c5e86bc932c94f590606b95 (MD5) Previous issue date: 2008-03-10eng
dc.formatapplication/pdfpor
dc.thumbnail.urlhttp://tede2.pucrs.br:80/tede2/retrieve/9093/401158.pdf.jpg*
dc.languageporpor
dc.publisherPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sulpor
dc.publisher.departmentFaculdade de Engenhariapor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.initialsPUCRSpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectCIRCUITOS INTEGRADOSpor
dc.subjectSISTEMAS ELETRÔNICOSpor
dc.subjectELETROMAGNETISMOpor
dc.subjectTOLERÂNCIA A FALHAS (COMPUTAÇÃO)por
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApor
dc.titleValidação de uma técnica para o aumento da robustez de soc s a flutuações de tensão no barramento de alimentaçãopor
dc.typeDissertaçãopor
Aparece nas coleções:Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica

Arquivos associados a este item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
401158.pdfTexto Completo9,62 MBAdobe PDFThumbnail

Baixar/Abrir Pré-Visualizar
Mostrar registro simples do item Recomendar este item Visualizar estatísticas


Os itens no repositório estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, salvo quando é indicado o contrário.