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Conjunto de itens:
Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
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30-Mar-2012 | Detecção de defeitos do tipo Resistive-Open em SRAM com o uso de lógica comparadora de vizinhança | Lavratti, Felipe de Andrade Neves | Vargas, Fabian Luis | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica | Dissertação | |
25-Mar-2010 | Teste de SRAMs baseado na integração de March teste e sensores de corrente on-chip | Quispe, Raúl Darío Chipana | Vargas, Fabian Luis | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica | Dissertação |
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