Navegando por Autor Medeiros, Guilherme Cardoso
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Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
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17-Ago-2017 | Development of a test methodology for FinFET-Based SRAMs | Medeiros, Guilherme Cardoso | Poehls, Leticia Maria Bolzani | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica | Dissertação |