Navegando por Assunto Post-Silicon Tests
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Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
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9-Mar-2018 | ![]() | The impact of voltage scaling over delay elements with focus on post-silicon tests | Heck, Guilherme | Calazans, Ney Laert Vilar | Programa de Pós-Graduação em Ciência da Computação | Tese |