@PHDTHESIS{ 2016:1238333354,
 	title = {Solu??o do problema inverso da tomografia por imped?ncia el?trica utilizando o simulated annealing : uma nova abordagem},
 	year = {2016},
 	url = "http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/6625",
 	abstract = "O problema de reconstru??o da tomografia por imped?ncia el?trica (TIE) ? um
 problema de otimiza??o inverso, n?o linear e mal-condicionado, no qual se objetiva
 minimizar a diferen?a entre dados medidos e calculados atrav?s de um modelo
 num?rico. No presente trabalho, ? descrita uma nova abordagem do m?todo de
 recozimento simulado aplicado ? reconstru??o de imagens de TIE. A principal
 vantagem do algoritmo apresentado ? que todos os par?metros de condutividade do
 dom?nio s?o atualizados conjuntamente. Outros m?todos que empregam o
 recozimento simulado para a solu??o do problema da TIE avaliam individualmente
 cada par?metro de condutividade, tendo, por isso, grande custo computacional. O
 m?todo proposto foi testado com dados gerados computacionalmente e com
 medidas realizadas em um tanque de simula??o f?sica. Em ambos os casos, ele
 p?de fazer a invers?o dos dados, sendo capaz de determinar a posi??o, as
 dimens?es e a condutividade de diferentes materiais em um plano transverso de um
 objeto opaco.",
 	publisher = {Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul},
 	scholl = {Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia e Tecnologia de Materiais},
 	note = {Faculdade de Engenharia}
}