@MASTERSTHESIS{ 2015:425958359,
 	title = {Estimativa da incerteza de medi??o de um sistema utilizado para caracteriza??o eletr?nica de materiais semicondutores},
 	year = {2015},
 	url = "http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/6656",
 	abstract = "A proposta desse trabalho foi apresentar um estudo de caso da aplica??o do m?todo cl?ssico para a avalia??o dos dados de medi??o e para a express?o da incerteza de medi??o. O objeto de estudo foi um cristal semicondutor definido como amostra do ensaio com base na sua estrutura eletr?nica. O sistema de medi??o permite caracterizar a amostra atrav?s do m?todo de Van der Pauw e do efeito Hall para determinar a resistividade e o coeficiente Hall do cristal. A escolha de um semicondutor como objeto de estudo e um m?todo de caracteriza??o eletr?nica para avalia??o da incerteza de medi??o ? devida a sua import?ncia na fabrica??o de dispositivos utilizados em praticamente todos os produtos eletr?nicos. Primeiramente, foi realizada uma revis?o da literatura sobre as caracter?sticas dos semicondutores para compreens?o dos resultados que foram obtidos; em seguida, o desenvolvimento de uma pesquisa dos fen?menos f?sicos que explicam as medi??es realizadas; e, por ?ltimo, a apresenta??o das caracter?sticas t?cnicas do sistema de medi??o destinado para obten??o dos valores das grandezas de estudo. Ap?s, foi apresentado o m?todo para avalia??o da incerteza, e analisadas as fontes de incerteza inerentes ao processo de medi??o e aos fen?menos f?sicos envolvidos, e identificadas as componentes que n?o afetam o resultado da medi??o. O produto final desse trabalho foi uma planilha de c?lculo com o balan?o de incerteza para avalia??o dos resultados das medi??es. Essa planilha foi desenvolvida para o sistema de medi??o utilizado nesse trabalho. Entretanto, prop?em-se que seja testada por outros usu?rios para avalia??o dos resultados obtidos com outro conjunto de instrumentos de medi??o.",
 	publisher = {Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul},
 	scholl = {Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia e Tecnologia de Materiais},
 	note = {Faculdade de Engenharia}
}