@PHDTHESIS{ 2012:418258769, title = {Soft error mitigation in asynchronous networks on chip}, year = {2012}, url = "http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/5198", abstract = "O aumento agressivo das frequ?ncias de opera??o de sinais de rel?gio em tecnologias submicr?nicas profundas chegou ao seu limite. O uso de rel?gios globais n?o ? mais vi?vel em tais tecnologias, o que fomenta a populariza??o do paradigma Globalmente Ass?ncrono, Localmente S?ncrono na constru??o de sistemas integrados complexos, onde se empregam ilhas s?ncronas de l?gica interconectadas atrav?s de comunica??o ass?ncrona. Redes intrachip ass?ncronas proveem um modelo de comunica??o baseado em troca de pacotes e paralelismo de comunica??o escal?vel quando comparado com arquiteturas de comunica??o tradicionais, como as baseadas em barramentos compartilhados. Devido a estas caracter?sticas, tal tipo de redes vem revelando benef?cios, quando comparadas com suas equivalentes s?ncronas, para construir as arquiteturas many-cores do futuro, e isto em termos de ambos, desempenho e dissipa??o de pot?ncia. Um dos pr?ximos desafios para as arquiteturas de comunica??o em quest?o ? a confiabilidade, na forma de robustez a efeitos de evento ?nico (em ingl?s, single event effects ou SEEs), quando o circuito sofre impactos de part?culas geradas por radia??o ionizante. Isto ocorre porque a diminui??o cont?nua das geometrias de dispositivos semicondutores em tecnologias sucessivas aumenta cada vez mais a sensibilidade destes a tais efeitos. Ao contr?rio do que ocorre em circuitos s?ncronos, varia??es de atraso induzidas por radia??o em geral n?o geram qualquer impacto, exceto por poss?veis perdas de desempenho, em circuitos l?gicos ass?ncronos constru?dos usando t?cnicas quase insens?veis a atrasos (em ingl?s quasi-delay insensitive ou QDI). Contudo, a invers?o de valores de bits em dispositivos de armazenamento pode corromper o estado do circuito sem poss?vel solu??o de recupera??o, mesmo no caso de ass?ncronos. Este trabalho prop?e um novo conjunto de t?cnicas aplic?veis a redes intrachip ass?ncronas, que visa o aumento de robustez contra efeitos de evento ?nico. Apresentam-se estudos de caso pr?ticos de tais t?cnicas e avaliam-se as mesmas em ambientes que simulam casos reais de uso. Os resultados obtidos mostram que o aumento de robustez alcan?ado sobre redes intrachip tem o potencial de tornar esta arquitetura de comunica??o a principal candidata para integrar as novas gera??es de dispositivos de sil?cio complexos constru?dos com o emprego de nodos tecnol?gicos avan?ados tais como 32 nm, 28 nm, 20 nm e abaixo", publisher = {Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul}, scholl = {Programa de P?s-Gradua??o em Ci?ncia da Computa??o}, note = {Faculdade de Inform?ca} }