@MASTERSTHESIS{ 2012:1038170756,
 	title = {Constru??o de um sistema automatizado para caracteriza??o el?trica de semicondutores pelo m?todo de Van Der Pauw},
 	year = {2012},
 	url = "http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3215",
 	abstract = "Nos materiais semicondutores a condu??o el?trica ocorre atrav?s do movimento de cargas negativas (el?trons) ou positivas (formadas por lacunas deixadas pelos el?trons). Assim, o efeito Hall nos materiais semicondutores poder? informar qual o tipo e a densidade dos portadores de carga na amostra e a mobilidade destas cargas. Al?m dessas grandezas, outras caracter?sticas do material como a largura da banda proibida e condutividade el?trica podem indicar a qualidade estrutural e a pureza do material. Neste trabalho foi constru?do um sistema automatizado para medi??es de resistividade, mobilidade e n?mero de portadores de carga em amostras de materiais semicondutores de dimens?es n?o padronizadas, ou seja, amostras t?picas encontradas em laborat?rios de pesquisa. Foi utilizado o m?todo de Van der Pauw que despreza o formato superficial da amostra, desde que tenham espessura conhecida. Um sistema criog?nico que envolve o porta amostras e assim permite a realiza??o de medidas em temperaturas de -60 at? +70 ?C. Para a automa??o das medidas de resistividade, n?mero de portadores de carga e mobilidade foi desenvolvido um programa para o sistema de controle e aquisi??o de dados. Uma fonte com medidores de corrente e tens?o da Keithley? Instruments foi acoplada ao sistema. Medidas realizadas em amostras padr?o comprovam que o sistema preenche os requisitos do National Institute of Standards and Technology (NIST) para materiais semicondutores, apresentando erro inferior a 2%.",
 	publisher = {Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul},
 	scholl = {Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia e Tecnologia de Materiais},
 	note = {Faculdade de Engenharia}
}