@MASTERSTHESIS{ 2012:791113131,
 	title = {Desenvolvimento de um sensor "On-Chip" para monitoramento do envelhecimento de SRAMs},
 	year = {2012},
 	url = "http://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3052",
 	abstract = "A miniaturiza??o da tecnologia Complementary Metal-Oxide Semiconductor (CMOS) tornou poss?vel a integra??o de milh?es de transistores em um ?nico Circuito Integrado (CI) aumentando assim, a densidade dos mesmos. Em mais detalhes, essa miniaturiza??o resultou em signi cativos avan?os tecnol?gicos devido fundamentalmente ? diminui??o do delay do transistor o que, por sua vez, acarretou no aumento da performance dos CIs devido ao aumento na freq??ncia de opera??o dos mesmos. Al?m disso, a aumento no n?vel de integra??o dos CIs possibilitou o desenvolvimento de CIs capazes de agregarem um n?mero cada vez maior de fun??es aumentando signi cativamente a complexidade dos mesmos. Em paralelo, o r?pido aumento na necessidade de armazenar um volume cada vez maior de informa??o resultou no fato de que Static Random Access Memories (SRAMs) ocupam hoje grande parte da ?rea de sil?cio de um System-on-Chip (SoC). A SIA Rodamap prev? que em 10 anos cerca 94% da ?rea de um SoC ser? dedicada ? mem?ria [1]. Entretanto, essa miniaturiza??o gerou v?rios problemas, relacionados ? con abilidade, que devem ser afrontados atrav?s do uso de diferentes t?cnicas que visam ? otimiza??o de CIs. Neste contexto, ? importante salientar o fen?meno conhecido com Negative Bias Temperature Instability (NBTI) que afeta a con abilidade do CI em longo prazo, ou seja, durante a sua vida ?til. Especi camente em SRAMs o NBTI provoca a degrada??o da Static Noise Margim (SNM) o que, por sua vez afeta a capacidade de armazenamento das c?lulas de mem?ria. Neste contexto, esta disserta??o de mestrado tem como principal objetivo a especi ca??o, implementa??o, valida??o e avalia??o de uma metodologia baseada em hardware para o monitoramento do n?vel de envelhecimento de c?lulas de SRAMs a m de garantir a con abilidade das mesmas durante a sua vida ?til. A metodologia proposta consiste na inser??o de um sensor capaz de monitorar o consumo de pot?ncia din?mica das c?lulas durante as opera??es de escrita a m de compar?-los com os valores de nidos como padr?o para uma c?lula n?o envelhecida. Finalmente, a metodologia proposta ser? validada funcionalmente e sua e ci?ncia ser? avaliada a partir da an?lise da sua capacidade de monitoramento e detec??o bem como, a partir dos overheads de ?rea, performance e imunidade a variabilidade do processo de fabrica??o.",
 	publisher = {Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul},
 	scholl = {Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia El?trica},
 	note = {Faculdade de Engenharia}
}