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dc.creatorBenfica, Juliano D'ornellas-
dc.contributor.advisor1Vargas, Fabian Luis-
dc.contributor.advisor1Latteshttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4788515U8por
dc.date.accessioned2015-04-14T13:56:30Z-
dc.date.available2007-04-16-
dc.date.issued2007-02-15-
dc.identifier.citationBENFICA, Juliano D'ornellas. Plataforma para desenvolvimento de SoC (System-on-Chip) robusto à interferência eletromagnética. 2007. 173 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, Porto Alegre, 2007.por
dc.identifier.urihttp://tede2.pucrs.br/tede2/handle/tede/3060-
dc.description.resumoO ambiente eletromagnético em que sistemas eletrônicos operam está tornando-se cada vez mais hostil. A sociedade observa com bastante entusiasmo a rápida proliferação de uma quantidade infindável de equipamentos eletrônicos sem fio (wireless). Infelizmente, esta tendência tem por conseqüência a poluição de forma dramática do espectro de freqüência, e portanto, aumentando o ruído intrínseco do ambiente onde vivemos. Por outro lado, é fundamental para a aceitação e a segurança destes equipamentos eletrônicos que estes não falhem devido ao ambiente eletromagnético. Assim, é de suma importância compreender como o ruído eletromagnético (Electromagnetic Interference, ou EMI) impacta a confiabilidade de sistemas integrados complexos (Systems-on-Chip, ou SoC). Algumas empresas em escala mundial têm demonstrado muita preocupação com este problema através do desenvolvimento de várias plataformas comerciais para o projeto e o teste de SoCs. Entretanto, estas plataformas não garantem medições adequadas da susceptibilidade dos sistemas eletrônicos à EMI. Este cenário nos motivou a propor uma plataforma de prototipagem reconfigurável para avaliar e aprimorar projetos de SoCs levando-se em consideração sua imunidade ao ruído eletromagnético. Esta plataforma é baseada em normas internacionais IEC 62.132 para o projeto e o teste de sistemas eletrônicos, ao nível de placa. O objetivo final deste conjunto de normas é ditar regras que viabilizam a medição precisa da imunidade de circuitos integrados à EMI, tanto radiada quanto conduzida. A plataforma desenvolvida é baseada em duas placas específicas e complementares. A primeira é dedicada para o teste de imunidade ao ruído irradiado em uma Gigahertz Transverse Electromagnetic Cell (GTEM Cell) de acordo com a norma IEC 62.132-2 (IEC, 2004). A segunda placa é dedicada ao teste conduzido de ruído de RF e foi implementada de acordo com as normas IEC 62.132-4 e IEC 62.132-2 (IEC, 2004), respectivamente. Após o desenvolvimento da plataforma em questão, um estudo-de-caso baseado no processador soft-core da Xilinx, MicroBlaze, operando sob o controle do sistema operacional uCOS-II foi desenvolvido pelo Grupo SiSC e testado na plataforma. Os resultados dos ensaios são bastante motivadores e demonstram a capacidade e a flexibilidade da plataforma ser utilizada como ferramenta para avaliar o comportamento de SoCs em ambiente ruidoso do tipo EMIpor
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2015-04-14T13:56:30Z (GMT). No. of bitstreams: 1 389203.pdf: 6935100 bytes, checksum: 7b0d4097399f1b7fa7e32077309d3b40 (MD5) Previous issue date: 2007-02-15eng
dc.formatapplication/pdfpor
dc.thumbnail.urlhttp://tede2.pucrs.br:80/tede2/retrieve/11403/389203.pdf.jpg*
dc.languageporpor
dc.publisherPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sulpor
dc.publisher.departmentFaculdade de Engenhariapor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.initialsPUCRSpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectSISTEMAS ELETRÔNICOSpor
dc.subjectSISTEMAS OPERACIONAIS (COMPUTAÇÃO)por
dc.subjectELETROMAGNETISMOpor
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICApor
dc.titlePlataforma para desenvolvimento de SoC (System-on-Chip) robusto à interferência eletromagnéticapor
dc.typeDissertaçãopor
Aparece nas coleções:Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica

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