Navegando por Assunto Memórias SRAM
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| Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 17-Ago-2017 |  | Development of a test methodology for FinFET-Based SRAMs | Medeiros, Guilherme Cardoso | Poehls, Leticia Maria Bolzani | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica | Dissertação |