Navegando por Autor Borcelli, Anelise Fernandes
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Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
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27-Nov-2015 | Estimativa da incerteza de medição de um sistema utilizado para caracterização eletrônica de materiais semicondutores | Borcelli, Anelise Fernandes | Dedavid, Berenice Anina | Programa de Pós-Graduação em Engenharia e Tecnologia de Materiais | Dissertação |